SEM和TEM的關鍵區別在於SEM通過檢測反射電子來生成圖像，而TEM通過檢測透射電子來生成圖像。
SEM和TEM是我們在電子顯微鏡中使用的分析儀器，通過電子束獲得微小物體的圖像。
目錄
1. 概述和主要區別
2. 什麼是SEM
3. 什麼是TEM
4. 並列比較——表格形式的SEM和TEM
5. 摘要
什麼是掃描電鏡(sem)？
SEM代表掃描電子顯微鏡。它通過掃描樣本表面來創建樣本圖像。它使用一束電子聚焦在樣品上。這些電子與樣品表面的原子相互作用，產生不同的信號來表示表面的形貌。探測器檢測這些信號來產生圖像。我們這裡使用的探測器是Everhart Thornley探測器。
圖01:SEM樣品室
這種技術產生的圖像是三維的，最大放大倍數可達200萬倍。此外，分辨率約為0.4納米。
什麼是瞬變電磁波(tem)？
TEM代表透射電子顯微鏡。這臺顯微鏡把一束電子穿過樣品。因此，這將創建樣本內部結構的圖像。此外，這個圖像是由於電子和樣品原子之間的相互作用而產生的。此外，我們可以在熒光屏或攝影膠片上得到圖像。
圖2:TEM獲得的圖像
當考慮分辨率時，該儀器可給出約0.5埃的分辨率。此外，它還可以將一個樣本放大到原來的5000萬倍左右。然而，TEM給出的圖像是二維的。
掃描電鏡(sem)和瞬變電磁波(tem)的區別
SEM代表掃描電子顯微鏡，TEM代表透射電子顯微鏡。SEM和TEM的關鍵區別在於SEM通過檢測反射電子來生成圖像，而TEM通過檢測透射電子來生成圖像。SEM分析樣品表面，TEM分析樣品內部結構。SEM和TEM的另一個區別是它們的分辨率，SEM技術的分辨率約為0.4納米，而TEM的分辨率約為0.5埃。
總結 - 掃描電鏡(sem) vs. 瞬變電磁波(tem)
SEM代表掃描電子顯微鏡，TEM代表透射電子顯微鏡。SEM和TEM的關鍵區別在於SEM通過檢測反射電子來生成圖像，而TEM通過檢測透射電子來生成圖像。
引用
1趙世業等。“海洋微塑性定量的侷限性及改進和標準化建議”，《水生環境中的微塑性汙染》，2018年，第27-49頁。，doi:10.1016/b978-0-12-813747-5.00002-3。
